产品详情
  • 产品名称:TOFD多通道超声探伤仪

  • 产品型号:CTS-2009型
  • 产品厂商:汕头超声
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简单介绍:
汕头超声CTS-2009型TOFD多通道超声探伤仪能够实现声束位移、声束偏转和声束聚焦等特性,达到各种检测目的。
详情介绍:

CTS-2009多通道TOFD超声波检测仪兼容欧盟EN12668-1:2010标准,国内NB/T47013.10,DL/T330,GB/T 23902标准,能够一次性扫查覆盖200mm厚度焊缝,具备还原缺陷特征功能的合成孔径聚焦(SAFT)技术,采用工业级TFT显示屏,具有全WVGA分辨率(800×600),完全胜任在室外和阳光直射的环境下工作,支持全触控操作,提高检测效率。检测仪一次性通过中国特种设备检测研究院的检测并获得B级证书,在类似等效输入噪声、净增益等14个TOFD检测关键指标中达到A类性能指标要求。

  • “3+4+1”多通道设计:3个TOFD通道可一次覆盖200mm厚度的焊缝检测,传统射线检测的理想替代方案;4个常规通道可对焊缝的表面盲区和底面盲区全覆盖检测,3个TOFD通道和4个PE通道的探头线由同一根电缆线引出;1个单通道作为单通道的TOFD检测及常规超声检测复核。

  • 方波激励,超保真低噪声前置放大技术,缺陷识别更清晰;配合本公司前置放大器CTS-8682,信噪比提高10dB左右。

  • 独特的通道间噪声抑制技术,解决国内仪器多通道间串扰问题。

  • 满足国内TOFD标准NB/T47013.10、DL/T330、GB/T 23902,兼容EN12668-1标准。

  • 8.4寸工业级TFT显示屏(800×600),全触控操作,提高您的检测效率。

  • 高达400MHz的A/D采样频率,高采样深度。

  • 一次性TOFD扫描长度达40m。

  • A扫描、B扫描、TOFD扫描等多种探伤功能。

  • 丰富的数据接口,双USB接口,LAN网络接口,HDMI高清数字接口。

  • 多种扫查器可选,为用户定制专用扫查器,标配扫查器为SCQtofd-3。

  • 采用专用航空级定制数据电缆线,信号传输损耗小,柔韧性能特佳。

  • 集成多种标定功能:根据直通波和底波的深度校准,根据直通波的零刻度校准,根据底波的厚刻度线校准;满足各种条件下的图像标定。

  • 集成多种图像处理功能:合成孔径聚焦(SAFT)技术、拉直、差分、对比度、放大等。

  • 集成多种缺陷标记功能:矩形模式、长度模式、高度模式、自由模式,满足各类缺陷的标记。

  • 扫查图像可以直接复制到粘贴板,在报告中直接粘贴;扫查图像可另存为图片,图片的格式可选BMP/JPEG/TIFF/PNG/GIF;检测参数及缺陷信息易于查看,内嵌检测报告模板,检测报告模板可为用户定制。

  • 内嵌曲面工件扫查的工艺参数计算工具,平板工件的多通道工艺参数计算工具,为用户提供检测工艺设计作参考。

  • 离线分析软件同时兼容CTS-1008plus及CTS-2009两款仪器。

  • 存储容量达16G(可外接扩展到32G),存储长度可达5000m以上(*高扫查精度);全天候探伤数据记录。

  • 便携式设计,重量仅3.0kg(含电池),便于携带。

  • 大容量锂电池,可连续工作6小时,配备两块电池可满足一天的工作量。

一 功能强大的离线分析软件

1 主分析软件

CTS-2009型TOFD多通道超声探伤仪

  • 快捷的文件打开模式。

  • 多种深度校准方式选择。

  • 拉直、差分、对比度、放大、合成孔径聚焦(SAFT)、曲线拟合等多种图像处理方法。通过鼠标滚轮可连续调节对比度及SAFT窗口,实时动态更新图像。

  • 多种缺陷标记方式,矩形、长度、高度、自由模式可选。

  • 内置标准检测报告模板,可为用户定制专用检测报告格式。

  • 原始图像与SAFT图像同步显示,缺陷测量评定方便快捷。

  • 图像可复制,可另存为各种格式图片文件,出报告简单轻松。

  • 内嵌曲面工件检测工艺计算及多通道检测工艺计算工具。

CTS-2009型TOFD多通道超声探伤仪CTS-2009型TOFD多通道超声探伤仪

SAFT处理前                        SAFT处理后

2 曲面工件检测工艺计算

提供凹面及凸面工件检测工艺计算,快捷得出弧长、PCS、弦高等工艺参数,弧长用于调节探头间距,弦高用于修正缺陷高度。

CTS-2009型TOFD多通道超声探伤仪CTS-2009型TOFD多通道超声探伤仪

3 多通道检测工艺计算

支持国内NB/T47013及DL/T330两种标准,可同时设计5个通道的检测参数,满足400mm厚度焊缝的检测工艺。可快捷计算TOFD常用的工艺参数如探头中心间距(PCS)、深度覆盖范围、底面覆盖、时差周期、深度分辨力、扫查面盲区、中心底面盲区、轴偏离底面盲区。

二 配套探头及楔块

系列探头的频率范围为1MHz至10MHz,晶片尺寸范围为3mm至20mm,系列楔块的角度为45°、60°及70°,满足标准推荐使用的要求,覆盖400mm厚度的检测要求。探头接口规格为L5或C5接口。

探头规格:

二 配套探头及楔块

系列探头的频率范围为1MHz至10MHz,晶片尺寸范围为3mm至20mm,系列楔块的角度为45°、60°及70°,满足标准推荐使用的要求,覆盖400mm厚度的检测要求。探头接口规格为L5或C5接口。

探头规格:

型号 频率(MHZ) 晶片直径(mm)
10N3-T1 10 3
10N6-T1 10 6
7.5N3-T1 7.5 3
7.5N6-T1 7.5 6
5N6-T1 5 6
5N12-T2 5 12
2.5N6-T1 2.5 6
2.5N12-T2 2.5 12
1N20-T3 1 15

型号说明:以10N3-T1为例,10表示探头频率,N表示晶片材料代号,3表示晶片直径,T1表示探头外壳型号。

楔块规格:

型号 钢中纵波折射角 匹配探头外壳型号
ST1-45L 45° T1
ST1-60L 60° T1
ST1-70L 70° T1
ST2-45L 45° T2
ST2-60L 60° T2
ST2-70L 70° T2
ST3-45L 45° T3
ST3-60L 60° T3
ST3-70L 70° T3

型号说明:以ST1-45L为例,ST1表示楔块型号,匹配的探头外壳型号为T1,45表示钢中折射角为45°,L表示检测波形为纵波。